eRakII

พวกมึงเห็นอะไรในรูป? ถ้ามึงเห็นภาพขาวดำ มีวงกลมสีน้ำเงินอยู่เยอะๆละก็ กูจักต้องขอให้พวกมึงเอา IPA มาจุดไฟเผาเครื่อง AOI ของมึงทิ้งไปซะ เพราะมันไม่คุ้มค่าที่จะเอาปอร์เชมาลุยสวนยาง ทำไมการตรวจ Wafer ที่ Wafer Fab กับ Post Fab จึงต่างกัน การทำโปรแกรมในการตรวจสอบจึงต้องแตกต่างกันไปด้วย ในระหว่างที่มึงกำลังนึกอยู่นี้ มึงรีบไป Relocate เครื่อง AOI ที่มึงเอาไปกองรวมกัน Post Saw Process เพื่อ show Cap ซะก่อน พร้อมกับไปเอา Probe Mark Template ที่ Wafer probe ของมึงไปทำที่คั้นหนังสือซะให้หมด เพราะ AOI มันเป็น Quality Tool ไม่ใช่ Process มันเอาไว้ดักของเสีย แต่มึงเสือกจะมาเพิ่ม Yield ที่ AOI จริงๆแล้วมันต้องถูก Define ไปอยู่ในส่วนของ QA และที่สำคัญ!!!